HAST 高加速冲击测试系统（JESD22-A118/JESD22-A110）

较低来得快应力的测试（HAST）结合了较低温、较低稀度、较低压和等待时间，以测电路的有效性，无论是否具有电反向。HAST的测试以举例来说的方式来得快了来得传统观念的测试的阻碍。它并不一定上是一种破损失效的测试。破损型故障来得快，在较短的等待时间内发现包装密封，涂料和接头等缺陷。

反向较低来得快阻碍的测试（BHAST）借助于与HAST的测试相同的函数（较低压，较低温和等待时间），但缩减了电阻差值。BHAST的测试的期望是来得快电子设备内的破损，从而进一步提较低的测试间隔。

反向较低来得快阻碍的测试（BHAST）借助于与HAST的测试相同的函数（较低压，较低温和等待时间），但缩减了电阻差值。BHAST的测试的期望是来得快电子设备内的破损，从而进一步提较低的测试间隔。

HAST来得快阻碍的测试与THB的测试相同，因为故障是由相同的机制引起的。由此产生的故障以成比例的速率发生，并且可以在启动时引擎之间找到不确定性。电气电子设备/组件来得有效，因此，数千小时的THB的测试不能在短等待时间内发现HAST破损故障的测试的弱点。

型的HAST的测试条件包含110或130°C的密度，85%RH的稀度和96小时的的测试运行等待时间。一旦较低度来得快的阻碍的测试完成，的测试的样品将用防潮袋留在给客户，并带有的测试等待时间标签。HAST的测试举例来说遵循JEDEC规范JESD22 A110，“较低来得快密度和稀度阻碍的测试（HAST）”。

JESD22-A118 （无偏）

JESD22-A110 （反向）

IEC 60068-2-66

l HAST已被开发使用取代密度 - 稀度差值（THB）的测试

l HAST使用110至130 ⁰C的的测试密度，与THB的测试相比，将的测试等待时间较短至96小时

l 干燥）较低温 130C， 相对稀度 85%， 阻碍 33.3 psia

l （稀）较低温110C，相对稀度35%，阻碍17.7标准化

l 电子学

l 半导体

l 太阳能

l 药品

l 三维空间应用